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2018
9.18

X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶(hù)解決的問(wèn)題

X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶(hù)解決的問(wèn)題：（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。（4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀(guān)應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀(guān)應(yīng)力。（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)...
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2018
9.17

X射線(xiàn)衍射XRD工作原理

X射線(xiàn)衍射XRD工作原理：分析原理：X射線(xiàn)是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線(xiàn)和特征X射線(xiàn)兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線(xiàn)的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生大強(qiáng)度的光束稱(chēng)為X射線(xiàn)的衍射線(xiàn)。
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2018
9.17

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理

電感耦合高頻等離子體ICP工作原理分析原理：利用氬等離子體產(chǎn)生的高溫使用試樣*分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子，由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定，外層電子會(huì)從激發(fā)態(tài)向低的能級(jí)躍遷，因此發(fā)射出特征的譜線(xiàn)。通過(guò)光柵等分光后，利用檢測(cè)器檢測(cè)特定波長(zhǎng)的強(qiáng)度，光的強(qiáng)度與待測(cè)元素濃度成正比。
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2018
9.17

原子吸收光譜AAS工作原理

分析原理：通過(guò)原子化器將待測(cè)試樣原子化，待測(cè)原子吸收待測(cè)元素空心陰極燈的光，從而使用檢測(cè)器檢測(cè)到的能量變低，從而得到吸光度。吸光度與待測(cè)元素的濃度成正比。
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2018
9.17

掃描隧道顯微鏡STM工作原理

分析原理：隧道電流強(qiáng)度對(duì)針尖和樣品之間的距離有著指數(shù)依賴(lài)關(guān)系，根據(jù)隧道電流的變化，我們可以得到樣品表面微小的起伏變化信息，如果同時(shí)對(duì)x-y方向進(jìn)行掃描，就可以直接得到三維的樣品表面形貌圖，這就是掃描隧道顯微鏡的工作原理。譜圖的表示方法：探針隨樣品表面形貌變化而引起隧道電流的波動(dòng)提供的信息：軟件處理后可輸出三維的樣品表面形貌圖
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2018
9.17

原子力顯微鏡AFM工作原理

分析原理：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過(guò)在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。從而可以獲得樣品表面形貌的信息譜圖的表示方法：微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化提供的信息：樣品表面形貌的信息
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2018
9.11

掃描電子顯微技術(shù)SEM應(yīng)用原理

掃描電子顯微技術(shù)SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測(cè)高能電子束與樣品作用時(shí)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線(xiàn)等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線(xiàn)分布和面分布等提供的信息：斷口形貌、表面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等
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2018
9.11

透射電子顯微技術(shù)TEM應(yīng)用原理

分析原理：高能電子束穿透試樣時(shí)發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質(zhì)厚襯度象、明場(chǎng)衍襯象、暗場(chǎng)衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等
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